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La foudre est étudiée depuis de très longues années, suite à la découverte de Benjamin Franklin. Du fait d'une société particulièrement "électronisée", ce phénomène naturel devient une menace croissante pour nos installations. Dans le cas d'un développement et d'une fragilisation croissante des équipements électroniques et informatiques, la sensibilité aux surtensions ne fait qu'augmenter, constituant une menace aussi bien pour les particuliers que pour les professionnels.

Au moment de la décharge de foudre, un courant impulsionnel compris en 1000 et 200000 ampères en temps de montée de l'ordre de la microseconde peut être observé. De quoi causer des dommages importants sur les installations visées, provoquant un risque d'interruptions de services inacceptables, et de multiples perturbations sur les réseaux de transmission d'informations étendus.

Pour se protéger de la foudre, la décharge doit être capturée et détournée de sa cible initiale. Selon la technique du paratonerre, la foudre est captée de manière à protéger le site des effets de la foudre, bien qu'ils puissent être impactés par ses effets secondaires.

L'incident dû à la foudre est relativement courant. Statistiquement, la part des dégâts causés par la foudre sur les équipements informatiques est loin d'être négligeable.

Les conséquences d'une perturbation ne sont pas toujours visibles et immédiates. L'affaiblissement d'un composant par une surtension peut entraîner une réduction de la durée de vie du matériel, ou une panne 'différée'. L'utilisateur peut dès lors ne pas faire le lien entre la panne et la cause réelle. Il s'empressera d'établir un mauvais diagnostic, donc un mauvais traitement du problème.

Les conséquences de la foudre sur les installations sont bien réelles puisque la normalisation des installations électriques (norme NF C15-100) rend désormais obligatoire, dans certains cas, l'installation de parafoudres.

Les effets des surtensions sur les équipements sont de plusieurs types, par ordre décroissant :

Destruction

- Claquage en tension des jonctions semi-conducteurs
- Destruction des métallisations des composants
- Destruction des pistes de CI ou des contacts
- Destruction des Triacs/Thyristors par dV/dt

Pertubations de fonctionnement

- Fonctionnement aléatoires des bascules, thyristors ou triacs
- Effacement de mémoires
- Erreur ou blocage de programmes informatiques
- Erreur de données ou de transmission

Vieillissement prématuré

- Les composants exposés aux surtensions ont une durée de vie réduite